항 목 | R T | U T |
검 출 원 리 | 방사선을 시험채 에 투과시켜 검사함 | 시험체 내의 초음파 반사로 결함을 검출함 |
결함 검출능 | 방사선의 진행방향에 대한 두께를 갖는 결함 검출 우수 | 초음파의 반사면적이 큰 면상 결함 검출 능력이 우수함 |
표 시 형 태 | film 상에 2차원 투영상으로 나타남 | CRT 스크린에 신호 형태로 표시함 |
시험체 영향 | 시험체의 두께에 영향을 많이 받음 | 시험체 조직의 크기에 영향을 받음 |
안 전 관 리 | 별도의 안전관리(방사선)필요함 | 별도의 안전 관리가 필요 없음 |
재 질 | 대부분의 재질에 적용함 | 탄성율이 높은 금속에 적용 가능 |
결 함 식 별 | 결함의 형태를 관찰함 결함의 종류 식별이 가능 | 신호 형태로 나타나 결함 종류 식별이 곤란함 |
결함의 위치 판별 | 2차원적 위치 확인 | 3차원적 위치 확인 |
판 독 시 간 | 촬영 후 현상 과정을 거쳐야 판독 가능 | 검사 중 실시간 판독함 |
시험체 접근성 | 최소한 2면에서 접근 가능 해야함 | 1면에선만 접근하여도 검사 가능함 |
항 목 | M T | E T |
검 사 원 리 | 자력선 유도에 의한 검사 | 전자기 유도에 의한 검사 |
검사체 재질 | 강자성체 재료 | 도체 |
결함의 정량적 평가 | 결함지시모양, 크기, 형상, 위치를 육안 식별 가능함 | 질량손실분에 의해 에코크기가 결정되고 정도에 의해 위상변화로 나타남 |
결함 취치 식별 | 정확한 위치 식별 가능 | 1차원적 위치식별 가능 |
자동화의 용이성 | 자동 탐상이 곤란함 | 자동화가 용이함 |
시험체와의 접촉성 | 자극 또는 전극의 접촉이 필요함 | 비접촉 |
검 사 속 도 | 느리다 | 빠르다 |
항 목 | P T | M T |
대상 검사체의 재질 | 금속재료 전반, 탐상제에 영향이 없는 비금속재료 | 강자성체에 한함 |
검사체의 표면 거칠기의 영향 |
표면이 거칠고 탐상 조작이 곤란하면 검출성능이 저하 | 다소 영향은 받지만 침투탐상 보다 적음 |
겸출대상 결함 | 검사체의 표면에 열린 결함으로 결함의 내부가 공동으로 있는 경우에 한함 | 표면에 열리지 않은 결함, 표면에서 어느 정도 내부에 존재하는 결함, 결함내부에 개재물이 가득하여 존재하는 경우 모두 검출 가능 |
대상 결함 방향 의 영향 |
영향을 받지 않고, 여러 방향의 결함(균열 등)이 공존하는 경우에도 1회의 탐상 조작으로 탐상가능 | 검출되는 결함의 방향은 자장의 수직방향(45。 이내)으로 한정됨 |
검사체의 형상의 영향 |
복잡한 형상의 검사체에서도 1회 탐상 조작으로 거의 전표면의 탐상이 가능 | 반자장의 영향을 고려할 필요가 있음 |
작업상의 제약 | 휴대성이 좋고, 전원, 수도가 없는 장소에서도 적용 가능 | 전원이 필요 |
결함의 정량적 평가 | 결함 지시 모양의 형상, 크기, 색농도가 시간의 경과에 따라서 변하여 평가에 어려움이 생김 | 자분 모양은 변화하지 않음 |